非侵入性腦刺激（NIBS,Noninvasive Brain Stimulation)技術可以無創調節大腦興奮性，從而影響人類行為和認知功能。經顱磁刺激（TMS，Transcranial magnetic stimulation）和經顱電刺激（tES，Transcranial electrical stimulation）是兒童和青少年中最常用的非侵入性腦刺激技術。然而，它們應用于發育中的大腦的安全性仍需要進一步的研究。

Salehinejad等人薈萃分析了近十年(2013-2023)兒童及青少年非侵入性腦刺激(TMS和tES)安全方面的研究數據，并于2024年1月發表于《Current Opinion in Psychiatry》（IF=6.9)。本文節選文中TMS相關部分進行總結如下。

TMS對不同發育階段影響不同

TMS對腦功能的影響是通過其對皮質興奮性和神經可塑性的調節作用來實現的，而皮質興奮性和神經可塑性在不同的發育階段是不同的。因此，有必要了解發育中大腦的神經機制，并相應地制定和調整兒童的刺激方案。

還需要注意的是，不恰當的劑量/刺激強度可能會引起安全問題。

有研究表明，在各年齡組中，TMS誘導的電場在兒童的皮質表面分布最廣。因此，建議在兒童中應用TMS時采取安全預防措施。

此外，最近一項針對青少年抑郁癥的rTMS研究表明，與MRI指導定位的方法相比，基于頭皮的定位方法存在局限性。因此，建議通過計算，優化線圈的放置位置來增強對目標區域的劑量傳遞。雖然較高的電場不一定造成安全問題，但在TMS研究的劑量確定中，這一點仍應考慮在內。

TMS應用于兒童中的安全性

安全性指的是破壞性影響本身，而耐受性指的是不舒服和意外影響的存在，而不會對結構或功能造成損害。研究結果表明，經顱磁刺激的不良事件或副作用都是輕微的，與成人研究中發現的情況相似。常見的不良反應有頭皮不適、疼痛、發熱、頭痛、刺痛、面部肌肉痙攣或抽搐、頭暈等。研究表明，單脈沖和雙脈沖經顱磁刺激對兒童的風險最小。誘發癲癇發作是理論上rTMS可能引起的最嚴重的風險，尤其是在高頻rTMS中，但這種情況并不常見。在高頻rTMS中，較大的咔嗒聲(高達120dB)也可能導致聽力受損，因此強烈建議兒童在TMS治療期間使用耳塞。

兒童青少年TMS研究的安全性考慮

1.排除標準（禁忌癥）：頭部有金屬植入物、起搏器、裂縫或顱孔等可能導致局部電流密度增強的因素。

2.除非癲癇是治療目標，否則排除有活動性或既往癲癇發作的患者。

3.篩查患者目前服用的可能誘發癲癇的藥物。

通用安全守則

1.佩戴耳塞。

2.警惕rTMS模式下潛在的線圈發熱。

3.若使用高頻rTMS（研究證明高頻刺激有更高的聽力損傷及誘發癲癇的風險），建議在治療期間加強對患兒的監測。

4.若使用更深的刺激線圈，建議在治療期間加強對患兒的監測。